Předmět je základní jednotka výuky, jejímž prostřednictvím si student osvojí ucelenou část souboru znalostí a dovedností, potřebnou pro zvládnutí studijního oboru/specializace. Za věcný obsah předmětu zodpovídá garant předmětu. Časovou náročnost předmětu zhruba vyjadřuje atribut předmětu rozsah kontaktní výuky. Například rozsah = 2+2  značí, že předmět bude mít týdně dvě hodiny přednášek a dvě hodiny cvičení týdně. Na závěr semestru musí vyučující provést vyhodnocení, nakolik si ten který student osvojil poznatky a dovednosti, kterých měl během výuky nabýt. Jakým způsobem toto hodnocení vyučující provedou určuje atribut způsob zakončení. U předmětu lze definovat, že předmět je zakončen pouze zápočtem(Z), klasifikovaným zápočtem(KZ), pouze zkouškou(ZK), nebo zápočtem a zkouškou(Z,ZK). Náročnost úspěšného absolvování předmětu je vyjádřena ECTS kreditními body. Výuka předmětu probíhá během semestru. Opakovaně se předmět vyučuje vždy v zimním(Z), nebo v letním(L) semestru každého akademického roku. Výjimečně může předmět být nabízen studentům v obou semestrech(Z,L). Za organizační zajištění výuky zodpovídá přiřazená katedra, která zejména vytvoří časový rozvrh předmětu a zajistí pro předmět vyučující. Někteří přednáší a zkouší, jiní vedou cvičení a udělují zápočty.
Obsahová náplň a další organizační informace, týkající se předmětu je popsána pomocí různých popisných textů(anotace, týdenní osnova, literatura, apod.)
$DODATEK_POPIS

Anotace:
Studenti získají přehled v oblasti testování číslicových obvodů a o metodách pro zvýšení spolehlivosti a bezpečnosti. Studenti budou schopni vytvořit test obvodu metodou intuitivního zcitlivění cesty, použít automatický generátor testovacích vzorků, budou schopni navrhnout snadno testovatelný obvod a obvod s vestavěným testovacím vybavením, budou schopni lokalizovat poruchy na základě výsledků testů. Dále budou schopni analyzovat spolehlivost a provozuschopnost obvodů a aktivně ovlivňovat tyto parametry. Studenti budou schopni navržené znalosti využít v komplexních projektech návrhu obvodů ASIC i FPGA.

Osnovy přednášek:

1.		Úvod, typy defektů, poruch, testování
2.		Generování testu pro kombinační obvody
3.		Algoritmy pro automatické generování testu (ATPG)
4.		Testování sekvenčních obvodů, simulace poruch
5.		Spolehlivost systémů, zvyšování spolehlivosti
6.		Spolehlivostní modely, výpočet spolehlivosti
7.		Testovatelný návrh (DFT)
8.		Testování sekvenčních obvodů - scan návrh
9.		Testování propojení, testování systémů na čipu
10.		Prostředky vestavěné diagnostiky (BIST)
11.		Komprese testu
12.		Testování pamětí a FPGA obvodů

Osnovy cvičení:

1.		Úvod do předmětu
2.		Poruchy v číslicových obvodech
3.		D-Algoritmus, Booleovská diference
4.		Generování testů pro kombinační obvody
5.		Testování sekvenčních obvodů
6.		ATPG Atalanta
7.		Spolehlivostní modely s nezávislými prvky
8.		Markovské spolehlivostní modely
9.		Stromy poruch a další spolehlivostní modely
10.		Spolehlivostní normy
11.		Zápočtový test, Návrh vestavěné diagnostiky
12.		Rezerva, zápočet

Literatura:

O.

Novák, E. Gramatová, and R. Ubar, "Handbook of testing electronic systems". Praha: Publishing House of CTU, 2005. ISBN 80-01-03318-X.

Hlavička, J. "Diagnostika a spolehlivost". Praha: ČVUT, 1998. ISBN 80-01-01846-6. Hlavička, J. "Diagnostika a spolehlivost: cvičení". Praha: ČVUT, 1998. ISBN 80-01-01714-1.

R.		Velazco, D. McMorrow, J. Estela, "Radiation Effects on Integrated Circuits and Systems for Space Applications", Springer, 2019, ISBN: 978-3-030-04660-6, 401 p.
Z.		Navabi, "Digital System Test and Testable Design", Springer, 2011, ISBN 978-1-4419-7547-8, p. 435
L.		D., Protheroe D., "Digital circuit testing and design for testability", in Design of Logic Systems, Springer, Boston, MA, ISBN: 978-0-412-42890-6, 1992
F.		C. Wang, "Digital Circuit Testing: A Guide to DFT and Other Techniques", Elsevier, ISBN 978-0-12-734580-2, 1991, 228 p.
F.		da Silva, T. McLaurin, and T Waayers, "The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500", Frontiers in Electronic Testing, 2006-th Edition, Springer, ISBN 978-0387307510, 2006, 276 p.

Požadavky:
Základní znalost návrhu číslicových obvodů (BI-SAP).

Předmět je nahrazen ekvivalentním NI-TSP. Informace o předmětu a výukové materiály naleznete na https://courses.fit.cvut.cz/NI-TSP/

Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:

Plán Obor Role Dop. semestr MI-WSI-SI.2016 Webové a softwarové inženýrství V 3 MI-PB.2016 Počítačová bezpečnost V 3 MI-ZI.2016 Znalostní inženýrství V 3 MI-ZI.2018 Znalostní inženýrství V 3 MI-NPVS.2016 Návrh a programování vestavných systémů PO 3 MI-WSI-ISM.2016 Webové a softwarové inženýrství V 3 MI-WSI-WI.2016 Webové a softwarové inženýrství V 3 NI-TI.2018 Teoretická informatika V 3 MI-SP-TI.2016 Systémové programování V 3 MI-PSS.2016 Počítačové systémy a sítě V 3 MI-SPOL.2016 Nespecifikovaný/á obor/specializace studia - Unspecified Branch/Specialisation of Study VO 3 MI-SP-SP.2016 Systémové programování V 3