Předmět je základní jednotka výuky, jejímž prostřednictvím si student osvojí ucelenou část souboru znalostí a dovedností, potřebnou pro zvládnutí studijního oboru/specializace. Za věcný obsah předmětu zodpovídá garant předmětu. Časovou náročnost předmětu zhruba vyjadřuje atribut předmětu rozsah kontaktní výuky. Například rozsah = 2+2 značí, že předmět bude mít týdně dvě hodiny přednášek a dvě hodiny cvičení týdně. Na závěr semestru musí vyučující provést vyhodnocení, nakolik si ten který student osvojil poznatky a dovednosti, kterých měl během výuky nabýt. Jakým způsobem toto hodnocení vyučující provedou určuje atribut způsob zakončení. U předmětu lze definovat, že předmět je zakončen pouze zápočtem(Z), klasifikovaným zápočtem(KZ), pouze zkouškou(ZK), nebo zápočtem a zkouškou(Z,ZK). Náročnost úspěšného absolvování předmětu je vyjádřena ECTS kreditními body. Výuka předmětu probíhá během semestru. Opakovaně se předmět vyučuje vždy v zimním(Z), nebo v letním(L) semestru každého akademického roku. Výjimečně může předmět být nabízen studentům v obou semestrech(Z,L). Za organizační zajištění výuky zodpovídá přiřazená katedra, která zejména vytvoří časový rozvrh předmětu a zajistí pro předmět vyučující. Někteří přednáší a zkouší, jiní vedou cvičení a udělují zápočty.
Obsahová náplň a další organizační informace, týkající se předmětu je popsána pomocí různých popisných textů(anotace, týdenní osnova, literatura, apod.)
$DODATEK_POPIS
NI-TSP | Testování a spolehlivost | Rozsah kontaktní výuky: | 2P+2C | ||
---|---|---|---|---|---|
Vyučující: | Fišer P. | Způsob zakončení: | Z,ZK | ||
Zodpovědná katedra: | 18103 | ECTS Kredity: | 5 | Semestr: | Z |
Anotace:
Studenti získají přehled v oblasti testování číslicových obvodů a o metodách pro zvýšení spolehlivosti a bezpečnosti. Studenti budou schopni vytvořit test obvodu metodou intuitivního zcitlivění cesty, použít automatický generátor testovacích vzorků, budou schopni navrhnout snadno testovatelný obvod a obvod s vestavěným testovacím vybavením, budou schopni lokalizovat poruchy na základě výsledků testů. Dále budou schopni počítat a analyzovat spolehlivost a provozuschopnost obvodů a aktivně ovlivňovat tyto parametry. Studenti budou schopni navržené znalosti využít v komplexních projektech návrhu obvodů ASIC i FPGA.
Osnovy přednášek:
1. | Úvod, typy defektů, poruch, testování. | |
2. | Modelování poruch, teorie generování testu pro kombinační obvody. | |
3. | Algoritmy pro automatické generování testu (ATPG). | |
4. | Principy testování sekvenčních obvodů, simulace poruch. | |
5. | Spolehlivost systémů, zvyšování spolehlivosti. | |
6. | Modelování a výpočet spolehlivosti. | |
7. | Principy testovatelného návrhu (DFT). | |
8. | Testování sekvenčních obvodů - scan návrh. | |
9. | Testování propojení, testování systémů na čipu. | |
10. | Prostředky vestavěné diagnostiky (BIST). | |
11. | Principy komprese testu. | |
12. | Testování pamětí a FPGA obvodů. |
Osnovy cvičení:
1. | Úvod do předmětu | |
2. | Poruchy v číslicových obvodech | |
3. | Generování testů pro kombinační obvody, D-Algoritmus | |
4. | ATPG Atalanta, Booleovská diference | |
5. | ATPG založené na SATu | |
6. | Testování sekvenčních obvodů | |
7. | Spolehlivostní modely s nezávislými prvky | |
8. | Markovské spolehlivostní modely | |
9. | Stromy poruch a další spolehlivostní modely | |
10. | Spolehlivostní normy | |
11. | Zápočtový test, návrh vestavěné diagnostiky | |
12. | Rezerva, zápočet |
Literatura:
O. | Novák, E. Gramatová, and R. Ubar, "Handbook of testing electronic systems". Praha: Publishing House of CTU, 2005. ISBN 80-01-03318-X. |
R. | Velazco, D. McMorrow, J. Estela, "Radiation Effects on Integrated Circuits and Systems for Space Applications", Springer, 2019, ISBN: 978-3-030-04660-6, 401 p. | |
Z. | Navabi, "Digital System Test and Testable Design", Springer, 2011, ISBN 978-1-4419-7547-8, p. 435 | |
L. | D., Protheroe D., "Digital circuit testing and design for testability", in Design of Logic Systems, Springer, Boston, MA, ISBN: 978-0-412-42890-6, 1992 | |
F. | C. Wang, "Digital Circuit Testing: A Guide to DFT and Other Techniques", Elsevier, ISBN 978-0-12-734580-2, 1991, 228 p. | |
F. | da Silva, T. McLaurin, and T Waayers, "The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500", Frontiers in Electronic Testing, 2006-th Edition, Springer, ISBN 978-0387307510, 2006, 276 p. |
Požadavky:
Základní znalost návrhu číslicových obvodů (BI-SAP).
|
Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:
Stránka vytvořena 29. 3. 2024, semestry: Z/2020-1, L/2023-4, Z/2022-3, Z,L/2021-2, Z/2023-4, L/2019-20, L/2022-3, Z/2019-20, L/2020-1, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů | Návrh a realizace: J. Novák, I. Halaška |